納米力學(xué)測試系統(tǒng)

Hysitron TS 77 Select

自動桌面型納米力學(xué)和納米摩擦測試系統(tǒng)，提供高性能、多功能和易用性。

Hysitron TS 77 精選是自動化臺式納米力學(xué)和納米摩擦測試系統(tǒng)，可提供高性能、多功能和易用性。這種新型測試系統(tǒng)以布魯克著名的TriboScope電容式傳感器技術(shù)為設(shè)計，在納米至微米尺度上提供可靠的力學(xué)和摩擦學(xué)表征。TS 77 Select 支持最主流的測試模式，是定量納米壓痕、動態(tài)納米壓痕、納米劃痕、納米摩擦磨損和高分辨力學(xué)性能成像的高性價比解決方案。

基礎(chǔ)
核心測試模塊
包括納米壓痕、動態(tài)納米壓痕、納米劃痕、納米摩擦磨損和原位SPM成像。


明證
電容式傳感器技術(shù)
提供高靈敏度和低熱漂移，在納米到微米尺度上實現(xiàn)可靠的表征。


直觀
控制軟件和操作
讓操作員實現(xiàn)技術(shù)人員級的可靠測量。


TS 77 選擇設(shè)計

  • 1、彩色光學(xué)

  • 2、樣品固定臺

  • 3、隔振

  • 4、環(huán)境隔離罩

  • 5、壓電陶瓷掃描管

  • 6、電容式傳感器

  • 7、樣品運動臺

  • 8、大理石框架