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布魯克納米表面與量測(cè)
原子力顯微鏡-工業(yè)型原子力顯微鏡
Dimension Edge Pss 原子力顯微鏡
Dimension Fastscan Pro 原子力顯微鏡
Dimension HPl原子力顯微鏡
原子力顯微鏡-材料型原子力顯微鏡
Dimension XR 原子力顯微鏡
Dimension FastScan 原子力顯微鏡
Dimension lcon 原子力顯微鏡
Dimension Edge 原子力顯微鏡
Innova 原子力顯微鏡
MultiMode 8-HR 原子力顯微鏡
Dimension IconIR
Innova-IRIS 原子力-拉曼顯微鏡 聯(lián)用系統(tǒng)
Nanowizard NanoOptics 原子力顯微鏡
Nanowizard Nanoscience 原子力顯微鏡
原子力顯微鏡-生物型原子力顯微鏡
Dimension FastScan Bio 原子力顯微鏡
JPK CellHesion 300 生物型原子力顯微鏡
JPK ForceRobot 生物型原子力顯微鏡
JPK NanoRacer 生物型原子力顯微鏡
Nanowizard 生物型原子力顯微鏡
JPK NanoWizard PURE
JPK NanoWizard ULTRA Speed 2
JPK NanoWizard V BioScience
JPK NanoWizard ULTRA Speed 3
原子力顯微鏡-nanoIR納米紅外光譜儀
NEW Dimension IconIR300
Dimension IconIR
Anasys nanoIR3
Anasys nanoIR3-s
測(cè)試測(cè)量-三維光學(xué)輪廓儀
三維光學(xué)輪廓儀ContourX-100
三維光學(xué)輪廓儀ContourX-200
三維光學(xué)輪廓儀ContourX-500
ContourX-1000
NPFLEX-1000
三維光學(xué)輪廓儀ContourSP
三維光學(xué)輪廓儀HD9800+
測(cè)試測(cè)量-與顯微鏡聯(lián)用的納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)
Hysitron TS75 TriboScope用于AFM的納米壓痕儀
Hysitron BioSoft生物型原位納米壓痕儀
Hysitron IntraSpect 90原位納米壓痕儀
Hysitron IntraSpect 360用于X射線顯微鏡的納米壓痕儀
測(cè)試測(cè)量-用于SEM/TEM的納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)
Hysitron PI 89 用于SEM的納米壓痕儀
與掃描電鏡聯(lián)用的納米壓痕儀Hysitron PI 85E
Hysitron PI 80 SEM PicoIndenter
Hysitron PI 95用于TEM的納米壓痕儀
納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)
與顯微鏡聯(lián)用的納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)
測(cè)試測(cè)量-納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)
Hysitron TI 980 納米壓痕儀
Hysitron Premier納米壓痕儀
Hysitron TS 77 Select 精選 納米壓痕儀
測(cè)試測(cè)量-探針式輪廓儀(臺(tái)階儀)
DektakXT探針式輪廓儀
Dektak XTL探針式輪廓儀
測(cè)試測(cè)量-摩擦磨損測(cè)試儀和機(jī)械測(cè)試儀
UMT TriboLab
TriboLab CMP
NEW TriboLab HD高扭矩摩擦材料測(cè)試儀
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TA產(chǎn)品
熱分析儀
差示掃描量熱儀(DSC)
熱重分析儀(TGA)
高壓熱重分析儀(HP-TGA)
同步熱分析儀
動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀
熱機(jī)械分析儀(TMA)
吸附分析儀(SA)
流變儀
Discovery Core 流變儀(DCR)
Discovery 混合型流變儀(DHR)
Discovery 混合型流變儀附件
ARES-G2 流變儀
ARES-G2 流變儀附件
高溫粘度計(jì)
機(jī)械疲勞和 DMA
膨脹儀
臥式熱膨脹儀
立式膨脹儀
淬火膨脹儀
光學(xué)膨脹儀
高溫顯微鏡
導(dǎo)熱儀與熱擴(kuò)散分析儀
光/激光閃光分析儀
熱導(dǎo)率計(jì)
FOX 熱流計(jì)
ElectroForce 機(jī)械測(cè)試儀
負(fù)載框架
多樣本疲勞
測(cè)試臺(tái)架和 Planar Biaxial
心血管器械疲勞
動(dòng)態(tài)機(jī)械分析儀(DMA)
橡膠測(cè)試儀
橡膠加工分析儀(RPA)
無(wú)轉(zhuǎn)子硫化儀(MDR)
門尼粘度計(jì)(MV)
密度(ADT) 與硬度(AHT) 測(cè)試儀
切樣機(jī)
機(jī)械疲勞和 DMA
微量熱法
納瓦級(jí)差示掃描量熱儀(Nano DSC)
等溫滴定量熱儀 (ITC)
等溫微量熱儀
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賽默飛分子光譜
傅立葉變換紅外 (FTIR) 光譜
Nicolet Summit FTIR 光譜儀
Nicolet iS20 FTIR 光譜儀
Nicolet iS50 和 iS50R FTIR 光譜儀
Nicolet iG50 FTIR 光譜儀
近紅外光譜法(NIR)
Antaris II FT-NIR 分析儀
Antaris MX FT-NIR 過(guò)程分析儀
拉曼光譜法和顯微鏡
MarqMetrix All-n-One Process Raman Analyzer
DXR3xi 拉曼成像顯微鏡
DXR3 拉曼顯微鏡
DXR3 SmartRaman 光譜儀
DXR3 Flex 拉曼光譜儀
賽默飛半導(dǎo)體晶圓分析系統(tǒng)
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應(yīng)用中心
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