納米力學(xué)測(cè)試儀器

Hysitron TS75 TriboScope

為原子力顯微鏡提供定量的、基于剛性探針的納米壓痕和納米摩擦測(cè)試

布魯克的Hysitron TS 75 TriboScope納米壓痕儀為原子力顯微鏡領(lǐng)域提供了定量、剛性探針的納米壓痕和納米摩擦表征能力。Hysitron TriboScope 與布魯克的Dimension ICON、Dimension Edge和MultiMode 8聯(lián)用，以擴(kuò)展這些顯微鏡的表征能力。通過(guò)利用剛性測(cè)試探針，TriboScope 消除了與懸臂基測(cè)量相關(guān)的固有限制、可變性和復(fù)雜性，從而在納米到微米尺度上提供定量和可重復(fù)的力學(xué)和摩擦特性。

定量

剛性探針

消除基于彈性懸臂的納米壓痕測(cè)試技術(shù)固有的不確定性和復(fù)雜性。

特有

電容式傳感器技術(shù)

提供對(duì)納米壓痕過(guò)程的卓越控制，并提供業(yè)界領(lǐng)先的力和位移噪聲水平。

直觀

聯(lián)用接口

可簡(jiǎn)便與流行的商用 AFM 的集成，包括布魯克的Dimension ICON, Dimension Edge和MultiMode 8等

剛性探針優(yōu)勢(shì)

大多數(shù) 原子力顯微鏡（AFM）利用適當(dāng)?shù)膽冶圻M(jìn)行力學(xué)或摩擦學(xué)測(cè)試，在將懸臂的彈性和旋轉(zhuǎn)剛度與材料對(duì)施加應(yīng)力的反應(yīng)分離方面提出了重大挑戰(zhàn)。TriboScope 采用剛性測(cè)試探頭組件，允許在測(cè)試期間直接控制和測(cè)量施加的力和位移。

靜電力驅(qū)動(dòng)

TriboScope 利用靜電力驅(qū)動(dòng)和電容位移感傳感器技術(shù)，提供業(yè)界領(lǐng)先的噪聲水平和低熱漂移，從而將性能描述到納米級(jí)的極限。

力和位移反饋控制

TriboScope 在閉環(huán)力控制或位移控制下工作。TriboScope 利用 78 kHz 反饋環(huán)路速率，可以響應(yīng)快速材料變形瞬態(tài)事件，并忠實(shí)地再現(xiàn)操作員定義的測(cè)試功能。