測(cè)試與測(cè)量

與顯微鏡聯(lián)用的納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)


布魯克的通用納米力學(xué)和納米摩擦學(xué)測(cè)試系統(tǒng)，可與各種強(qiáng)大的顯微鏡技術(shù)聯(lián)用

Hysitron TS75 TriboScope用于AFM的納米壓痕儀

為原子力顯微鏡提供定量、剛性探針的納米壓痕和納米摩擦測(cè)試

Hysitron BioSoft生物型原位納米壓痕儀?

原位壓痕用于生物材料力學(xué)性能表征

Hysitron IntraSpect 90原位納米壓痕儀

針對(duì)拉曼顯微鏡優(yōu)化的納米壓痕系統(tǒng)

Hysitron IntraSpect 360用于X射線顯微鏡的納米壓痕儀

用于X射線顯微鏡和同步輻射線束的原位力學(xué)表征