納米級(jí)紅外光譜儀

Anasys nanoIR3 納米紅外光譜及成像系統(tǒng)

10 nm以下超高空間分辨率納米紅外光譜儀

nanoIR3 是新一代納米級(jí)紅外光譜、化學(xué)成像和性能成像系統(tǒng)，適用于材料科學(xué)和生命科學(xué)領(lǐng)域。該系統(tǒng)還提供基于紅外的化學(xué)成像，提供化學(xué)成分的分布成像。點(diǎn)光譜功能還能利用單一光提供光譜和化學(xué)成像。

無(wú)模型
紅外光譜
納米級(jí)紅外吸收數(shù)據(jù)的可靠采集


10nm 以下

輕敲模式納米紅外
提供空間分辨率化學(xué)成像，同時(shí)提供優(yōu)質(zhì)紅外光譜


高光譜
成像
擴(kuò)大了光譜范圍，應(yīng)用范圍更廣


全面的納米級(jí)表征

nanoIR3 具有全面的納米級(jí)表征能力。點(diǎn)波譜（POINTspectra）功能，單激光源可同時(shí)提供點(diǎn)波譜和化學(xué)成像，加快數(shù)據(jù)獲取，提升研究的成本效益。高波譜成像，能夠創(chuàng)建表面內(nèi)的 3D 波譜圖，幫助識(shí)別未知物，并導(dǎo)出另行處理。


Polymer nano fibers

高分子納米纖維的納米紅外測(cè)量。提供者：John Rabolt等人，特拉華大學(xué)


Resonance-Enhanced AFM-IR monolayer sensitivity

第三代共振增強(qiáng) AFM-IR 可提供單層靈敏度


Bruker 的共振增強(qiáng) AFM-IR 模式

可提供高性能、高質(zhì)量的多樣化光譜，幫助識(shí)別納米級(jí)材料，深入了解材料的變化和成分。共振增強(qiáng) AFM-IR 是靈敏度高的有機(jī)材料納米級(jí)光譜分析技術(shù)


Tapping AFM-IR 化學(xué)成像

nanoIR3 融合了技術(shù)，依托多年行業(yè)領(lǐng)先的 Anasys AFM-IR 儀器開(kāi)發(fā)經(jīng)驗(yàn)，是性能強(qiáng)的納米級(jí)紅外。Tapping AFM-IR 成像技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)高空間分辨率的化學(xué)成像，同時(shí)提供優(yōu)質(zhì)紅外光譜。無(wú)論用戶是想獲得聚合物、薄膜、單層還是微納米污染物的化學(xué)成分，都能使用現(xiàn)有的 Tapping AFM-IR 光譜、化學(xué)成像和材料性能成像系統(tǒng)快速又輕松地獲得高分辨圖像，該系統(tǒng)適用于材料和生命科學(xué)應(yīng)用

Chemical characterization of PS-co-PMMA block co-polymer

Tapping AFM-IR 對(duì) PS-co-PMMA 嵌段共聚物樣品的化學(xué)表征：(a) Tapping AFM 高度圖像；(b) Tapping AFM-IR 波譜，清楚識(shí)別每一個(gè)化學(xué)成分；(c) Tapping AFM-IR 重疊圖像，突出顯示兩種成分（1492 的 PS 和 1588 的PMMA ）；以及 (d) 輪廓截面圖，突出顯示可實(shí)現(xiàn)的空間分辨率 10 nm。樣品提供：Gilles Pecastaings博士、Antoine Segolene，波爾多大學(xué)。



反滲透膜:AFM-IR光譜和紅外成像顯示不同位置的紅外信號(hào)變化


聚醚砜 (PES:下方 光譜分配:S=0 對(duì)稱)伸展:1152、1295、CS02C不對(duì)稱，伸展:1320、C-0不對(duì)稱，伸展:1000

1240。苯環(huán)伸展:1485、1578，羰基:1731