原子力顯微鏡

Dimension HPI原子力顯微鏡

高效的工業(yè)研發(fā)型AFM



Dimension HPI 系統(tǒng)專為大批量、大生產(chǎn)環(huán)境而設(shè)計(jì)，支持多種 AFM 模式進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)量，具有簡(jiǎn)單易用性，并能實(shí)現(xiàn)在質(zhì)量控制、質(zhì)量保證和失效分析中的低檢測(cè)成本。Dimension HPI 使用接觸、輕敲和 峰值力輕敲模式技術(shù)，使用戶能夠精確控制探針和樣品的相互作用力，從而延長(zhǎng)探針壽命，并且在數(shù)千次測(cè)量中保持測(cè)量的準(zhǔn)確性。

創(chuàng)新

峰值力攻絲
小化探頭上的橫向力，以進(jìn)行樣品保護(hù)、延長(zhǎng)探針壽命和一致的測(cè)量。


獨(dú)特

快速掃描AFM探頭
低成本測(cè)量，并保證可靠的數(shù)據(jù)。


易于使用

自動(dòng)化軟件
使每個(gè)用戶成為 AFM 專家，并確保操作員與操作員之間的一致性。


特征

廣泛的測(cè)量范圍


從傳統(tǒng)的AFM掃描模式到獨(dú)有的 PeakForce 峰值力模式，Dimension HPI 提供靈活的選項(xiàng)，可滿足各種樣品在特定制造工程中對(duì)測(cè)量的需求，而不受通常 AFM 用于研究時(shí)的設(shè)置復(fù)雜性的限制。

快速納米電氣計(jì)量


快速掃描技術(shù)和導(dǎo)電力顯微鏡 （CAFM）結(jié)合可以在高掃描速率下測(cè)量納米級(jí)的電流，顯著提高失效分析的效率。FastScan HPI 利用峰值力輕敲模式下的磁力顯微鏡技術(shù)，可以在不影響磁力顯微鏡精度的情況下將掃描速度增大10倍。PeakForce KPFM?提供高的空間分辨率和精確的表面電位測(cè)量。PeakForceTUNA 提供靈敏的導(dǎo)電性測(cè)量。

精確的納米力學(xué)性能表征


布魯克獨(dú)特的 PeakForce QNM 和 FastForce Volume? 模式可以精確測(cè)量材料的力學(xué)性能 - 模量、剛度、粘附性、耗散和形變量，同時(shí)對(duì)樣品形貌和電學(xué)特性進(jìn)行成像。PeakForce QNM 支持對(duì)聚合物、薄膜和納米缺陷進(jìn)行非破壞性測(cè)量，這些缺陷無(wú)法通過(guò)TEM或SEM技術(shù)進(jìn)行測(cè)量。